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微波器件高加速寿命偏压老化测试系统

是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压，模拟微波器件在实际使用中可能遇到的高温、高压等恶劣环境，以加速器件的老化过程。

微波器件高加速寿命偏压老化测试系统 应用

适用于各种封装形式的射频场效应管、射频功率器件进行温湿度下反偏试验 。

微波器件高加速寿命偏压老化测试系统 特点

·每颗器件的Vgs独立控制

·实时监测每个试验器件的Id、 Ig

·控制上、下电时序

·全过程试验数据保存于硬盘中， 可输出Excel

·试验报表和绘制全过程漏电流 IR变化曲线

微波器件高加速寿命偏压老化测试系统